Tester chropowatości powierzchni wyświetlacza Przyrząd do pomiaru chropowatości Ra Rz Rq i ponad 12 parametrów Miernik chropowatości o rozdzielczości 0,001 μm Do samodzielnego montażu

- Precyzyjny pomiar z rozdzielczością 0,001 μm NITERUS GSR750 oferuje wyjątkową dokładność z rozdzielczością 0,001 μm, zapewniając bardzo szczegółową analizę chropowatości powierzchni w zastosowaniach przemysłowych i kontroli jakości.
- Kompleksowa analiza parametrów Ten tester chropowatości mierzy ponad 12 parametrów, w tym Ra, Rz, Rq, zapewniając dogłębną ocenę tekstury powierzchni na potrzeby precyzyjnej produkcji.
- Wysoka dokładność i niski poziom błędów Przy zmienności wartości ≤ 4% i błędzie wartości ≤ ±10%, GSR750 zapewnia wiarygodne i powtarzalne wyniki w różnych warunkach testowych.
- Zasada detekcji indukcyjnej zapewniająca stabilną pracę Wykorzystując zasadę detekcji indukcyjnej, przyrząd zapewnia spójne i stabilne pomiary, idealne do zadań wymagających dużej precyzji kontroli powierzchni.
- Rozszerzony zakres pomiarowy do 320 μm Zakres pomiarowy 320 μm umożliwia GSR750 obsługę szerokiej gamy wykończeń powierzchni, od dokładnego polerowania po zgrubną obróbkę powierzchni.